Page 36 - 陽明交大電機學院院刊 2025.02
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IEEE Transactions on Industrial Electronics
Dynamic On-Resistance and Threshold Voltage
Instability Evaluation Circuit for Power GaN
HEMTs Devices
2024/09,
電子研究所 吳添立 教授（通訊作者、共同作者）
這篇論文的特色在於提出了一個創新 和 Vth 的問題，減少了不同測試電路所帶
的可靠度測試電路，能夠在相同操作條件 來的誤差。該電路在硬切換(Hard switching)
下，測量氮化鎵（GaN）高電子遷移率電晶 操作下進行測試，並成功驗證了其準確性
體(HEMT)的動態導通電阻（Rds,on）和閘 與有效性，尤其是在分析由熱效應與電子
極臨界電壓（Vth）的不穩定性。氮化鎵元 捕捉效應(electron trapping)導致的不穩定
件是下世代電力電子及高頻通訊關鍵元件 性時。此電路將有助於有效率的分析氮化
但卻仍具有很大的可靠度問題。此創新電 鎵元件可靠度及進一步提升元件氮化鎵元
路有效地解決了先前需要分開測試 Rds,on 件可靠度。
Future Generation Computer Systems
"Industrial federated learning algorithm
(P-PFedSGD) for tool wear estimation"
2024/09,
電控工程研究所 李慶鴻 特聘教授兼電控所所長
（第一作者）
(Gradient Divergence Index) 作為衡量全局
聯邦學習是一種分散式機器學習方
模型與本地模型之間差距的指標，特別適
法，允許客戶端在不共享資料的情況下協
用於 non-IID 資料分佈環境下，該指數可
同訓練模型，有效解決隱私問題。然而，
用於驗證客戶端與伺服器模型的統計異質
資料異質性和隱私洩露風險仍是主要挑
戰。本論文提出了梯度分歧指標 性，進而量化不同客戶端所導致的模型差
異。
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